テフロン®処理防塵固化材技術資料
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- 18 - -1(b))。 ④ 浮遊粉塵量の測定は、試料落下直後から1分間計測を連続して5回行い、試料投入前の測定値(ダークカウント)を差し引いた値の幾何平均値を、当該試料の「落下発塵量」とする※1。 ※1 幾何平均値χは次式により求める。 Logχ = 1/5・Σlog(χi – d) ・χi:個々の測定値 ・ d :ダークカウント サンプリング 測定状況 ダークカウント測定 試料200g計量 試料200g計量 浮遊粉塵量測定 写真-1 テフロンⓇ処理防塵固化材の発塵試験方法の流れ

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